1. Dalam sisihan asas paksi, sisihan asas a ~ g adalah sisihan atas, manakala dalam sisihan asas lubang, sisihan asas a ~ g adalah sisihan yang lebih rendah, dan nilai mutlak berkurangan secara berurutan;
2. Penyimpangan asas antara paksi H dan lubang H adalah sifar;
Iii. Penyimpangan asas antara paksi js dan lubang js adalah simetri relatif terhadap garis sifar;
Secara umum, A ~ h membentuk pelepasan yang sesuai dengan lubang rujukan, di mana A, B, dan C digunakan untuk pelepasan besar, dan D, E, dan F terutamanya digunakan untuk gerakan putaran di bawah keadaan pelinciran umum. J ~ n membentuk peralihan yang sesuai dengan lubang rujukan, manakala p ~ zc membentuk gangguan yang sesuai dengan lubang rujukan.
Rajah urutan sisihan asas hanya memaparkan satu hujung zon toleransi, jadi kod mana -mana zon toleransi diwakili oleh gabungan kod sisihan asas dan nombor gred toleransi.
Memahami hubungan sisihan asas paksi lubang boleh mempertimbangkan kaedah penentuan ketepatan yang sesuai dalam reka bentuk. Tentukan toleransi dimensi paksi lubang berdasarkan hubungan antara toleransi yang sesuai.
Pilihan laser bagi instrumen pengukuran imej dapat memberikan fungsi pemfokusan titik tunggal yang tinggi dan fungsi pengimbasan permukaan, laser diod cahaya yang kelihatan rendah, memancarkan sumber cahaya ke permukaan bahagian, dan menerima sumber cahaya refleksi untuk mendapatkan data. Instrumen pengukuran imej manual memperoleh kontur permukaan resolusi tinggi dengan mengimbas permukaan bahagian dengan laser.
Sensor laser pilihan untuk instrumen pengukuran imej termasuk qvttl (lensa laser coaxial) atau off axis drs laser. Model yang berbeza telah dikonfigurasikan pada model yang berbeza, yang sesuai untuk permukaan bahagian yang berlainan, seperti refleksi meresap atau permukaan cermin, serta kecenderungan permukaan bahagian. Walaupun QVI OFF Axis DRS laser yang digunakan untuk instrumen pengukuran imej menyimpang dari pusat lensa instrumen, ia boleh menjadi sepaksi dan terpakai selepas penentukuran, dan boleh dikawal oleh program. Instrumen pengukuran imej gantri mudah digunakan
Probe pencetus titik tunggal menjadikan OGP instrumen pengukuran imej osiloskop pintar lebih pelbagai. Probe sentuhan instrumen pengukuran 2.5 dimensi boleh digunakan untuk mengukur ciri-ciri atau sempadan permukaan yang tidak dapat disentuh oleh imej.
Pengukuran siasatan boleh menjadi langkah dalam proses pengukuran pengukuran mesin pengujian tegangan mendatar-X atau pengukur imej pengukur imej. Imej Tegangan QVI Tenaga Pengujian Kalibrasi Koaksial Kalibrasi Unik memastikan semua sensor berada dalam sistem koordinat rujukan dan boleh diukur secara fleksibel dengan mana -mana sensor.
Ketepatan pengukuran siasatan siri dapat dipastikan melalui penentukuran bola rujukan dan perisian. Siasatan, modul yang boleh dilepaskan, pendakap siasatan, dan siasatan boleh dibeli dari QVI atau disediakan oleh pelanggan sendiri. Pengesan pencetus boleh dikonfigurasikan dalam SmartScope VantageTM, SmartScope FlashTM, SmartScope Ziptm, dan SmartScope ATSTM Systems. Semua probe boleh dikumpulkan, disimpan, dan berskala di bawah kawalan perisian. Konfigurasikan Prinsip Kerja dan Cara Probe Mengikut Instrumen Pengukuran Imej QVI