Dalam tahun -tahun kebelakangan ini, disebabkan oleh trend perkembangan pesat volum pengeluaran industri dan peningkatan tahap teknologi pengeluaran dan pemprosesan, terdapat banyak dua spesifikasi produk yang melampau, iaitu saiz yang lebih besar dan lebih kecil, untuk mesin pengukur koordinat automatik sepenuhnya. Sebagai contoh, mengukur spesifikasi luaran lapangan terbang, mengukur komponen penting jentera besar, seperti kereta api berkelajuan tinggi, dan mengukur spesifikasi nilai kritikal komponen kecil. Trend pembangunan kecil untuk pelbagai peralatan, serta mengukur spesifikasi mikro penting dalam teknologi mikroelektronik dan mikrobiologi, telah mewujudkan tugas harian baru untuk teknologi pengesanan. Teknologi instrumen pengukuran imej mempunyai julat pengukuran yang lebih luas. Sangat sukar untuk menggunakan pengukuran peralatan mekanikal tradisional dalam kedua -dua kategori besar dan kecil. Teknologi instrumen pengukuran imej boleh menghasilkan bahagian tertentu objek yang diukur mengikut peraturan ketepatan. Tugas harian yang tidak dapat diselesaikan dengan mengukur peralatan mekanikal dengan menjadikannya lebih kecil atau lebih besar. Oleh itu, sama ada pengukuran berskala besar atau kecil, keberkesanan utama teknologi instrumen pengukuran imej adalah jelas. Secara umumnya, komponen dengan spesifikasi antara 0mm hingga 10mm dirujuk sebagai komponen kecil, yang ditakrifkan secara antarabangsa sebagai komponen mesoscale. Komponen jenis ini mempunyai keperluan ketepatan yang tinggi, biasanya di peringkat μ m, pembinaan kompleks, kaedah pemeriksaan tradisional tidak dapat mempertimbangkan keperluan pengukuran. Perisian Sistem Instrumen Pengukuran Imej telah menjadi kaedah yang sama untuk mengukur komponen kecil. Pencitraan komponen yang diuji (atau ciri -ciri penting komponen yang diuji) mesti dijalankan berdasarkan lensa optik dengan pembesaran yang mencukupi pada sensor imej berpasangan. Dapatkan imej yang merangkumi maklumat sasaran keseluruhan pengukuran yang memenuhi keperluan, dan kumpulkan imej ke dalam komputer elektronik berdasarkan kad pengambilalihan data imej. Kemudian, lakukan resolusi imej dan pengiraan berdasarkan komputer elektronik untuk mendapatkan hasil pengukuran.
Trend pembangunan utama teknologi instrumen pengukuran imej di industri bahagian kecil dari tiga mata Mikroskop Analisis Upright adalah seperti berikut:
1. Selanjutnya meningkatkan ketepatan pengukuran. Dengan peningkatan standard pengeluaran perindustrian yang berterusan, keperluan ketepatan untuk bahagian halus akan diperbaiki lagi, dengan itu meningkatkan ketepatan teknologi instrumen pengukuran imej dalam mengukur ketepatan. Di samping itu, dengan trend perkembangan pesat peranti sensor imej, peranti piksel yang tinggi juga telah menetapkan piawaian untuk meningkatkan ketepatan perisian sistem. Di samping itu, penyelidikan saintifik lanjut mengenai definisi sub dan teknologi resolusi super juga akan memberikan jaminan teknikal untuk meningkatkan ketepatan perisian sistem.
2. Meningkatkan kecekapan pengukuran. Penggunaan bahagian kecil dan sederhana di lapangan telah diperbaiki pada tahap geometri, dan tugas harian 100% pengukuran dalam talian dan pengeluaran model pepejal pembuatan mesti diukur dengan cekap. Dengan peningkatan keupayaan konfigurasi perkakasan seperti komputer elektronik dan peningkatan berterusan algoritma pengoptimuman penyelesaian imej, kecekapan perisian sistem instrumen pengukuran imej akan ditingkatkan. 3. Lengkapkan transformasi komponen mikro dari pengukuran titik ke pengukuran keseluruhan. Teknologi instrumen pengukuran imej semasa adalah terhad oleh ketepatan pengukuran, dan kebanyakan kawasan ciri penting dalam komponen kecil dicatatkan untuk menyelesaikan pengukuran titik ciri penting, yang tidak dapat mengukur semua kontur atau semua titik ciri. Dengan peningkatan ketepatan pengukuran, mendapatkan imej terperinci bahagian-bahagian dan menyelesaikan pengukuran ketepatan tinggi sisihan penampilan keseluruhan akan digunakan dalam lebih banyak industri. Ringkasnya, dalam bidang pengukuran peranti elemen mikro, kecekapan tinggi teknologi instrumen pengukuran imej ketepatan tinggi terikat untuk menjadi prospek pembangunan utama untuk teknologi pengukuran ketepatan tinggi. Oleh itu, perisian sistem konfigurasi perkakasan untuk pengumpulan imej telah mencapai standard yang lebih tinggi untuk kualiti imej, kedudukan tepat tepi imej, dan pembetulan perisian, yang mempunyai prospek aplikasi yang luas dan kepentingan penyelidikan utama. Oleh itu, teknologi ini telah menjadi hotspot rangkaian untuk penyelidikan saintifik di pelbagai negara di seluruh dunia, dan telah menjadi salah satu aplikasi yang paling penting dalam teknologi pengesanan visual.